概要

反射率法による薄膜・界面構造の測定技術は進歩し、産業利用も拡大してきた。一方、非鏡面反射や微小角入射小角散乱に関する測定技術も発展している。本研究会では、それらの原理について解説するとともに、J-PARCで本格稼働しているパルス中性子反射率計であるBL16（SOFIA）とBL17（SHARAKU）の現状と、X線反射率計であるSPring-8のBL03XU（FSBL）の現状について紹介し、中性子と放射光の相補的利用について議論する。また、産業利用に関わる反射率系の測定実施例も紹介する。

開催日時

2014年1月17日（金） 13:00～17:00

場所

エッサム神田ホール 301会議室
〒101-0041 東京都千代田区神田鍛冶町3-2-2
Tel: 03-3254-8787

JR神田駅北口 徒歩1分
東京メトロ銀座線 神田駅 3出口前

申込方法

下記の内容をご記入のうえ、メールでお申し込みください。
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 (1) お名前
 (2) ご所属
 (3) ご連絡先 （電話番号、メールアドレス）
 (4) 懇親会に  参加する・参加しない （どちらか消してください）
＊懇親会への参加を当日キャンセルされた場合、会費をいただきますのでご了承ください。
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【申込み、問い合わせ先】
中性子産業利用推進協議会
事務局 桐原由美子
Email: info＠j-neutron.com

懇親会

神田駅近くの「ワインホール130」で懇親会を開催します。
施設側とユーザーのざっくばらんな意見の交換の場になります。ぜひご参加ください。
参加希望者は研究会の参加申し込み時に登録してください。
会費は当日いただきます。

会費:	¥2,000
時間:	17:20～19:20
会場:	ワインホール130 〒101-0047 東京都千代田区内神田3-18-8 ナルミビル4F

テーマ

微小角入射散乱測定技術の現状と界面ナノテクノロジー

プログラム

13:00 – 13:05	開会挨拶	主査 鳥飼直也 （三重大学）
13:05 – 13:25	J-PARCの現状と中性子の産業利用	林眞琴 （茨城県）
13:25 – 14:15	非鏡面反射と微小角入射小角散乱の測定原理	鳥飼直也 （三重大学）
14:15 – 14:55	試料水平型中性子反射率計SOFIAを用いたソフト界面の観察（仮題）	山田悟史 （KEK）
14:55 – 15:10	休憩
15:10 – 15:40	BL17「SHARAKU」の現状と表面・界面観察結果	武田全康 （JAEA）
15:40 – 16:10	中性子反射率測定事例（仮題）	金谷利治 （京都大学）
16:10 – 16:35	SPring-8 BL03XUにおける斜入射小角X線散乱測定の現状	小川紘樹 （JASRI）
16:35 – 17:00	シンクロトロンX線回折による表面・薄膜の測定事例（仮題）	坂田修身 （NIMS）

共催

中性子産業利用推進協議会
茨城県中性子利用促進研究会
総合科学研究機構 東海事業センター （CROSS東海）
J-PARC/MLF利用者懇談会

協賛

SPring-8利用推進協議会 （予定）

概要

詳細は、中性子産業利用推進協議会のホームページ をご覧ください。