趣旨

昨今の実用材料、デバイスの高性能・微小化に伴い、それらに表面・界面が占める空間的割合が増すことで、それら特性に対する界面の寄与が無視できなくなっている。中性子反射率法は、他の測定手法では困難な物質界面や薄膜の構造を非破壊かつ、サブnmスケールの高分解能で観察できる有力な測定手法である。
本研究会では、反射率法の基礎から、応用事例として産業界でも注目されるナフィオン膜とリチウム電池電極に関する測定結果、さらに、J-PARCで稼働する2台のパルス中性子反射率計の現状を紹介する。

共催

中性子産業利用推進協議会
茨城県中性子利用促進研究会
J-PARC/MLF利用者懇談会
総合科学研究機構 （CROSS東海）

協賛

SPring-8利用推進協議会 （予定）

開催日時

2012年9月3日（月） 13:00～16:30

場所

研究社英語センタービル大会議室
〒162-0825　東京都新宿区神楽坂1-2

参加料

無料

プログラム

13:00 – 13:15	はじめに：J-PARCの現状	茨城県 企画部 林眞琴
13:15 – 14:00	中性子反射率法の基礎	三重大学大学院工学研究科 鳥飼直也
14:00 – 14:30	応用事例1：ナフィオン薄膜の構造解析	豊田中央研究所 原田雅史
14:30 – 15:00	応用事例2：中性子反射率法によるリチウム電池電極 / 電解質界面構造変化の直接観察	東京工業大学大学院総合理工学研究科 平山雅章
15:00 – 15:10	休憩
15:10 – 15:40	装置現状1：中性子反射率計SOFIAを用いた表面・界面観察	高エネルギー加速器研究機構 山田悟史
15:40 – 16:10	装置現状2：SHARAKUの測定現状（仮）	総合科学研究機構 （CROSS東海） 水沢多鶴子
16:10 – 16:40	全体質疑・討論

申し込み先

中性子産業利用推進協議会事務局 担当: 桐原
Email: [email protected]

下記の内容をご記入の上、メールにてお申し込みください。
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