概要

近年隆盛となったナノサイエンスは、分子を創り出す超分子化学の進歩と、新物質の発見を可能とした構造評価技術の進歩が背景にあるといえます。たとえば、走査型顕微鏡や、3次元顕微鏡、共焦点顕微鏡の発展は目覚ましく、今や構造評価に欠かせない手段となっています。また、計算機シミュレーションもナノ構造の解析に欠かせません。これらの実空間観察の手法に対して、小角散乱法は、統計平均・非破壊の構造解析や揺らぎの直接観察が可能な重要な手段であり、散乱と顕微鏡は相補的に活用すべきものと考えます。本研究会では、中性子小角散乱と実空間画像の関係や、計算機シミュレーション、ならびに、各種顕微鏡法の相補的利用を交えた講演を行い、ソフトマター材料の構造解析の将来を議論して行きたいと考えます。

共催

中性子産業利用推進協議会
茨城県中性子利用促進研究会
J-PARC/MLF 利用者懇談会
総合科学研究機構 （CROSS）

協賛

SPring-8 利用推進協議会 （予定）

開催日時

2013年2月28日（木） 10:00～17:00

場所

研究社英語センタービル 大会議室
〒162-0825 新宿区神楽坂1-2
Tel: 03-3269-4331

プログラム

10:00 –	開会挨拶	幹事　小泉智 （茨城大学）
10:05 –	J-PARCの現状と中性子の産業利用	林眞琴 （茨城県）
基礎編
10:20 –	小角散乱解析 : 基礎から応用（の入り口）まで	杉山正明 （京都大学）
11:10 –	3次元イメージング法と散乱を用いた高分子ナノ構造の構造解析	陣内浩司 （九州大学）
実践編
13:00 –	多孔質体のフラクタル次元 : SEM断面像と小角散乱におけるフラクタル次元解析とその比較	真山博之 （旭川医科大学）
13:35 –	小角X線散乱とX線顕微鏡を用いたゴム材料研究	岸本浩通 （住友ゴム）
14:10 –	電気化学AFM法による電解質薄膜の研究	大平昭博 （産総研FC-Cubic）
14:45 – 15:00	休憩
15:00 –	X線CTで調べたポリマーブレンドの界面張力と相溶性	西川幸宏 （京都工芸繊維大学）
15:35 –	走査型電子顕微鏡と小角散乱	小泉智 （茨城大学）
16:10 –	ランダムガウシアン法による小角散乱の実空間変換	（調整中）
16:45 – 17:00	総合討論	小泉智 （茨城大学）

申込み先

中性子産業利用推進協議会事務局　担当：桐原
Email: [email protected]
下記の内容をご記入の上、メールでご連絡ください。
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 (5) 懇親会に　参加する・参加しない （どちらか消してください）
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研究社英語センタービルへのアクセス

〒162-0825 東京都新宿区神楽坂1-2
Tel: 03-3269-4331 / 03-3260-9856
JR中央・総武線飯田橋駅西口 徒歩約3分
東京メトロ南北線・有楽町線飯田橋駅B2a、B3出口 徒歩約7分