概要

放射光と中性子による反射率測定による薄膜・界面の構造解析について解説し、J-PARC/MLFの BL17 SHARAKU のパルス中性子反射率計の現状と測定事例を紹介するとともに、JRR-3ならびにJ-PARC/MLFの反射率計を利用した成果のなかから、学術的にも産業利用的にも産業界が関心を持たれるテーマに関して中性子の特長が活かされた測定実施例を紹介する。

参加費

無料ですが、資料代として¥5,000いただきます。
なお、中性子産業利用推進協議会の会員の方と大学、研究機関の方は無料です。それ以外の方は事務局までご相談ください。
資料代は当日徴収いたします。

協議会参加の企業・団体については中性子産業利用推進協議会のホームページ でご確認ください。

申込方法

下記の内容をご記入のうえ、メールでお申し込みください。
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 (1) お名前
 (2) ご所属
 (3) ご連絡先 （電話番号、メールアドレス）
 (4) 交流会に  参加する / 参加しない
＊交流会への参加を当日キャンセルされた場合、会費をいただきますのでご了承ください。
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【申込み、問い合わせ先】
中性子産業利用推進協議会
事務局 桐原由美子
Email: info＠j-neutron.com
Tel: 029-352-3934

交流会

神楽坂の「ラ・カシェット」で交流会を開催します。
施設側とユーザーのざっくばらんな意見の交換の場になります。ぜひご参加ください。
参加希望者は研究会の参加申し込み時に登録してください。当日も受け付けます。
会費は当日いただきます。

会費:	¥3,000
時間:	17:30～19:30
会場:	神楽坂 ラ・カシェット 〒162-0825 東京都新宿区神楽坂1-10 三経第22 ビル3F Tel: 03-3513-0823

テーマ

反射率測定と界面ナノテクノロジー

プログラム

13:00 – 13:05	開会挨拶	主査 田中敬二 （九州大学）
13:05 – 13:25	J-PARCの現状と中性子の産業利用	林 眞琴 （茨城県）
【チュートリアル】
13:25 – 14:05	放射光・中性子反射率計による高分子薄膜・界面の構造解析	田中敬二（九州大学）
【装置セッション】
14:05 – 14:35	偏極中性子反射率計(写楽)の現状と将来展望	武田全康（JAEA）
14:35 – 15:05	J-PARC/MLF中性子ビームラインにおける薄膜・界面計測と最近の研究	水沢多鶴子 （CROSS東海）
15:05 – 15:15	休憩
【膜構造解析セッション】
15:15 – 15:45	中性子反射率法による金属被膜表面における添加剤吸着層の構造解析	平山朋子（同志社大学）
15:45 – 16:15	燃料電池用電解質ナフィオンの膨潤過程	田中敬二（九州大学）
16:15 – 16:45	放射光と中性子を用いた有機太陽電池薄膜の構造解析	鈴木拓也（MCHC R&D シナジーセンター）
16:45 – 17:15	白金とナフィオンの界面構造解析	原田雅史（豊田中研）

共催

中性子産業利用推進協議会
茨城県中性子利用促進研究会
総合科学研究機構 東海事業センター （CROSS東海）
J-PARC/MLF利用者懇談会（予定）